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梅特勒-分析天平

梅特勒-分析天平

简要描述:

采用高分辨率称量单元,满足用户高精度的称量需求.AB-S/FACT采用温度漂移及工厂时间设置触发的全自动校准技术(FACT);AB-S采用内置砝码自动校准;AB-L采用外置砝码自动校准.采用背亮式液晶显示屏,方便用户在不同称量环境下读取称量结果.内置RS232C通讯接口,方便连接打印机、电脑等外围设备。具有基础称量、百分比称量、计件称量、动态称量、检重称量等内置应用程序。

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1.可读性:0.1mg

2.zui大称量值:220g

3.重复性:0.1mg

4.线性误差:0.2mg

5.尺寸:245×321×344

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